ZOVIS創辦人的話
2006 年，我加入了第一條 AOI 產線。那時還沒有「深度學習」這個詞，一個機器視覺系統的成敗，取決於工程師對光學與邏輯的理解。
接下來的 20 年，機器視覺領域起起伏伏。深度學習帶來新的可能，也帶來新的門檻——樣本難以累積、判斷不易解釋、導入週期偏長。我在現場經歷過許多瑕疵檢測案子的起落。
我看過不少檢測設備卡在「過度檢測」「參數難以收斂」「最後無法使用」——多數時候問題不在設備，而在方法。
我認為外觀瑕疵檢測可以不必這麼難：不需要瑕疵樣本訓練、不需要 GPU、不需要等半年。這條路走得通，只是和主流不同。
Zovis 是我們 20 年經驗累積出的做法。
林晏全創辦人
2006 年起從事機器視覺與 AOI 系統整合，曾任職日系機器視覺原廠；之後自行開發視覺軟體，經手外觀檢測、對位、量測與光機電整合專案。
- 機器視覺軟體開發（C++／Qt）
- Matrox MIL、OpenCV 影像處理
- GigE Vision 相機、線掃與多相機整合
- PLC、Modbus TCP、RS-232 通訊整合
- 光學配置與現場架設