ZOVIS
檢測對象
- LED / 半導體導線架
- 晶圓、晶片外觀
- 均熱片、陶瓷基板
典型痛點
- 瑕疵尺寸極小，且散佈在高度重複的圖案中
- 金屬高反光造成假瑕疵
- 鍍層色差需要量化標準，不是「看起來怪怪的」
ZOVIS 的做法
容差圖譜天生適合高度重複的圖案：良品的每個單元都成為統計基礎，任何單元偏離正常變異就被標出。色差以數值輸出，靈敏度可分區精準調校。
同一套邏輯
30 張良品起 · 約 30 分鐘建模 · 1–3 週上線
半導體的材質與瑕疵有它的特性，但流程一樣：先用你的樣品做測試，看得到結果，再決定要不要往產線走。
免費評估
想知道你的半導體檢測物適不適合 ZOVIS？
告訴我們你要檢測什麼、目前卡在哪裡。我們會先評估這條產線適不適合 ZOVIS，適合再往下談。